
Die EUV-Strahlung wird über eine laserbasierte Plasmaquelle generiert. Das kompakte System findet Anwendung in der Metrologie, beispielsweise für die Charakterisierung von EUV-Optiken und sensorischen Instrumenten, oder in der Materialforschung.


| Spezifikationen: | |
| Wellenlänge (Xe) | 7 – 20 nm |
| Pulsdauer | 6 ns |
| Plasmaform | Ø = 300 μm |
| Stabilität | 10% |